射线数字探测器灵敏度校正的等效能谱法

• 作者: 丁克勤 梁丽红
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 工学
• 关键词: 平板探测器 硬化效应 灵敏度 等效能谱 校正
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 光电子器件和系统
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TP391|TN911.72
• 字数: 2380字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-0086.2006.01.017

摘要

由于平板探测器对有无试件射线能谱响应的灵敏度不同,致使利用射线透照成像对试件投影估计的对比度降低,影响了对细节的可检出性.通过分析射线成像检测的数理模型,提出等效能谱透照成像方法,对探测器灵敏度进行校正.利用无缺陷的高密度材料等被检试件,进行背景成像,实现在有无试件情况下的探测等效能谱成像.与常规校正法对焊接板进行实验对比研究结果表明,等效能谱法增强了成像的可视化效果,通过像质计灵敏度实验,其对比度灵敏度提高了20～40灰度级;提高了检测中诸如未焊透和裂纹等微小细节的可检出性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁克勤	中国特种设备检测研究中心研究开发部	118	602	13.0	17.0
2	梁丽红	中国特种设备检测研究中心研究开发部	14	39	4.0	6.0