磁盘阵列RAID可靠性分析

• 作者: 陈华英
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁盘阵列 可靠性 镜像 磁盘阵列控制器
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 计算机工程与应用
• 页码范围: 403-405
• 页数: 3页
• 分类号: TP333
• 字数: 1688字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2006.03.033

摘要

介绍了磁盘阵列的基本概念和常用的磁盘阵列种类,分析了RAID0、RAID3和RAID10三种磁盘阵列的可靠性值,同时与实验数据进行了比较.结果表明,磁盘阵列的可靠性值基于标准模型在一定程度上可以进行量化,能进行科学的计算,得出RAID10比相应其他的RAID的容量更大,可靠性更佳.该文的可靠性分析对磁盘阵列的进一步研究和生产能起到现实的指导作用.