基于系统隐藏寿命数据的串联系统可靠性估计

• 作者: 蔡静 赵明 雷小平
• 来源期刊: 贵州大学学报（自然科学版）
• 学科: 数学
• 关键词: 串联系统 可靠性 隐藏数据 EM算法
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 专题研究
• 页码范围: 245-248,256
• 页数: 5页
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5269.2006.03.007

摘要

作者提出了一种估计串联系统可靠性的新的方法.该方法综合运用了系统水平和元件水平的部分数据.众所周知,一个串联系统的可靠度等于所有元件可靠度的乘积.为了精确估计所有元件的可靠度,我们必须充分利用所有测试数据信息.但是,由于在系统水平的数据中存在一些隐藏数据,我们必须通过一种EM算法来计算以系统水平测试数据为条件的元件的失效概率.另外,作者还提出了一个研究案例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵明	贵州大学工业经济工程研究所	33	114	7.0	9.0
2	蔡静	贵州大学工业经济工程研究所	8	15	3.0	3.0
3	雷小平	贵州大学工业经济工程研究所	3	12	2.0	3.0