逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计

• 作者: 师小琳
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 混联系统 可靠性指标 逐次截尾样本 经验Bayes估计
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 集成微系统
• 页码范围: 1-3,10
• 页数: 4页
• 分类号: O213.2|TP710
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.12.001

摘要

在逐次截尾样本下,研究电子元件混联系统可靠性指标的估计问题.将Bayes方法和极大似然法相结合,在平方损失下,获得部件失效率、系统可靠度和平均寿命的经验8ayes估计.最后给出随机模拟例子,说明该方法的正确性.结果表明可靠性指标的经验Bayes估计值精度较高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	师小琳		16	36	3.0	5.0