VLSIC的可靠性测试探讨

• 作者: 李青龙
• 来源期刊: 常州工学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: VLSIC 可靠性 测试
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 16-17,26
• 页数: 3页
• 分类号: TN47
• 字数: 2602字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0436.2006.02.005

摘要

针对超大规模集成电路(VLSIC)的可靠性测试问题进行了理论分析,叙述了VLSIC可靠性测试技术及特点,并对VLSIC可靠性测试的设计方法与改善进行了归纳总结.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李青龙	常州工学院电子信息与电气工程学院	8	6	2.0	2.0