低温碳纳米管的XPS光谱特征研究

• 作者: 罗永松 郑立坤
• 来源期刊: 信阳师范学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 低温碳管 后处理 含氧基团 X射线光电子能谱
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 应用技术研究
• 页码范围: 318-321
• 页数: 4页
• 分类号: TB383
• 字数: 2584字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0972.2006.03.021

摘要

采用X射线光电子能谱对后处理前后的低温碳管(LT-CNTs)进行表面特征分析.发现纯化后碳管的O/C原子比升高,经过Ar气保护下的高温煅烧的后处理后,其O/C原子比降低,比表面积增大.对C1s峰的拟合分析表明,碳管表面的含氧基团发生改变,深度纯化碳管时,大量活性碳原子变为羟基(C-O),大量的羰基(C=O)变为羧基(O-C=O).同时,大部分化学吸附的氧气将解吸,氧气的解吸将使C-O键或O-C=O转变为C=O双键等形式,且伴随碳管电学性质的改变,由明显的金属性转变为半导体性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗永松	信阳师范学院物理电子工程学院	13	51	4.0	6.0
2	郑立坤	信阳师范学院物理电子工程学院	21	61	3.0	7.0