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摘要:
提供了一种新的二极管芯片识别检测的任务规划方法,并提供了相应的数据结构,以及参数的计算方式.经试验以上方法能够较好的完成对二极管芯片群的识别检测任务,在处理速度方面有良好的表现.
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文献信息
篇名 二极管芯片检测任务规划及实现
来源期刊 机电产品开发与创新 学科 工学
关键词 二极管芯片检测 任务规划
年,卷(期) 2006,(6) 所属期刊栏目 测试与控制
研究方向 页码范围 113-115
页数 3页 分类号 TP23
字数 2597字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-6673.2006.06.052
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郗安民 北京科技大学机械工程学院 65 294 9.0 13.0
2 朱欣昱 北京科技大学机械工程学院 6 18 3.0 4.0
3 石炜 北京科技大学机械工程学院 5 12 2.0 3.0
传播情况
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引文网络
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2007(1)
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
二极管芯片检测
任务规划
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
机电产品开发与创新
双月刊
1002-6673
11-3913/TM
大16开
北京市首体南路2号6层632室
82-401
1988
chi
出版文献量(篇)
6855
总下载数(次)
12
总被引数(次)
21387
论文1v1指导