化合物LaAlSi的X射线粉末衍射数据

• 作者: 何维 张吉亮 曾令民
• 来源期刊: 中国材料科技与设备
• 学科: 化学
• 关键词: LaAlSi X-射线粉末衍射数据 晶体结构
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 77-79
• 页数: 3页
• 分类号: O614.811

摘要

利用X-射线粉末衍射技术和Rietveld结构修正方法对LaAlSi的粉末衍射数据进行了研究，井得到了其X-射线粉末衍射数据。化合物LaAlSi具有α-ThSi2结构类型，空间群为I4 1／amd（No．141），Z=4。点阵参数为a=0．42245（1）nm，c=1．45204（2）nm，衍射峰指标化的可靠性因子F30=211.4（35）。用Rietveld结构修正方法对该化合物晶体结构进行了精化修正，拟合结果为Rp=0．099和Rwp=0．133。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾令民	广西大学材料研究所	16	88	5.0	9.0
2	何维	广西大学材料研究所	27	46	3.0	5.0
3	张吉亮	广西大学材料研究所	5	9	2.0	2.0