信息电磁泄漏侦收系统抗噪声性能研究

• 作者: 董士伟 许家栋 郭陈江
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 抗噪声性能 侦收系统 误码率 噪声功率 Q函数
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 系统工程
• 页码范围: 1172-1173,1233
• 页数: 3页
• 分类号: TN971.1
• 字数: 1352字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2006.08.017

摘要

信息电磁泄漏侦收系统的抗噪声性能直接关系到系统整体性能.根据CRT显示器信息电磁泄漏机理及侦收系统工作原理,建立了信息电磁泄漏与侦收的数字信号基带传输模型,分别讨论了有、无码间干扰时侦收误码率与侦收距离、叠加次数、噪声功率的关系,利用Q函数描述了误码率的变化趋势.用所研制的侦收系统进行了实验,实验结果与理论分析一致性良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许家栋	西北工业大学电子工程系	331	2081	18.0	30.0
2	郭陈江	西北工业大学电子工程系	135	1008	14.0	26.0
3	董士伟	西北工业大学电子工程系	13	46	4.0	6.0