电阻率横向剖面法在倾斜断层精确探测中的应用研究

• 作者: 吴子泉 王成虎 谭捍东
• 来源期刊: 地球物理学进展
• 学科: 地球科学
• 关键词: 对称四极 横向剖面法 数值模拟 倾斜良导体 横向剖面电阻率层析成像
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 应用地球物理学
• 页码范围: 1296-1301
• 页数: 6页
• 分类号: P631
• 字数: 3415字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2903.2006.04.039

摘要

在横向剖面法研究的基础上,选取30度和60度倾斜良导体模型,利用有限元三维数值模拟方法,对比研究横向剖面法和常规剖面法的异常特征.研究结果表明:两方法对断层的倾向都有较好反映,对倾角难以判定.为研究倾角定量化判定,本文提出了横向剖面电阻率成像方法与常规的电阻率层析成像方法对比研究,结果表明:两者均较准确的反映出断层的倾角变化,前者效果略优于后者.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王成虎	中国地震局地壳所	49	289	9.0	15.0
2	吴子泉		20	129	5.0	11.0
3	谭捍东		40	721	13.0	26.0