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摘要:
提出了基于宽谱半导体激光器连续激光光腔衰荡法测量高反射率的方法,给出了方波调制连续激光光腔衰荡法理论.采用锁相技术记录光腔输出信号一次谐波的振幅和相位,由振幅和相位随调制频率的变化曲线分别拟合衰荡时间.给出了不同腔长下两种拟合方式分别得到的衰荡时间,最终确定腔镜反射率为99.70%,误差小于0.01%.由频域拟合方式得到反射率结果,使可靠性得到提高.与脉冲激光光腔衰荡法相比,采用连续半导体激光器作光源,大大降低了成本,且由于光束质量高,更有利于提高测量精度.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 连续激光光腔衰荡法精确测量高反射率
来源期刊 中国激光 学科 工学
关键词 测量 高反射率 光腔衰荡 宽谱 连续激光
年,卷(期) 2006,(9) 所属期刊栏目 测量技术
研究方向 页码范围 1247-1250
页数 4页 分类号 TN2
字数 1955字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0258-7025.2006.09.021
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚元 中国科学院光电技术研究所 3 60 3.0 3.0
5 李斌成 中国科学院光电技术研究所 45 325 10.0 15.0
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光腔衰荡
宽谱
连续激光
研究起点
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期刊影响力
中国激光
月刊
0258-7025
31-1339/TN
大16开
上海市嘉定区清河路390号 上海800-211邮政信箱
4-201
1974
chi
出版文献量(篇)
9993
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