氧化锌压敏电阻微波烧结行为的研究

• 作者: 孙丹峰 彭虎 徐政 李磊 林枞
• 来源期刊: 材料科学与工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微波烧结 ZnO压敏电阻 微观结构 电性能
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 887-890
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.93|TN015
• 字数: 3407字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2812.2006.06.023

摘要

采用微波和传统烧结工艺制备了ZnO压敏电阻,比较了微波和传统烧结ZnO压敏电阻的相组成、表面微观结构和电性能,探讨了烧结温度和保温时间对微波烧结样品的致密化和电性能的影响.与传统工艺相比,微波烧结工艺明显改善了ZnO压敏电阻的致密化行为,缩短了烧结周期,改善了电性能.优化的微波烧结样品的压敏电压U1mA为521.8V,非线性系数α是61.4,漏电流IL为1.25×10-6A,残压比Kr为1.45,通流量Im达11600A,均达到或超过了传统工艺水平.微波烧结样品的通流量Im更是比传统烧结样品高约50%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭虎		25	448	13.0	20.0
2	徐政	同济大学材料科学与工程学院	160	2312	24.0	39.0
3	李磊	同济大学材料科学与工程学院	29	270	9.0	15.0
4	孙丹峰		16	169	7.0	12.0
5	林枞	同济大学材料科学与工程学院	13	228	8.0	13.0