JTAG软核设计与仿真

• 作者: 吕彩霞 李哲英
• 来源期刊: 电脑知识与技术（学术交流）
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG 边界扫描 逻辑仿真
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 研究开发
• 页码范围: 135-136
• 页数: 2页
• 分类号: TP312
• 字数: 2877字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3044.2006.08.078

摘要

JTAG边界扫描测试是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法.本文论述了边界扫描技术的结构特征及软核设计方法,并分析了JTAG电路中数据传输的路径及电路对速度的影响,以采样指令为例进行了功能仿真.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李哲英	北京联合大学信息学院	44	140	7.0	8.0
2	吕彩霞	北京交通大学电子信息工程学院电子工程系	3	8	2.0	2.0