LS-JTAG边界扫描测试系统的设计与实现

• 作者: 沈绪榜 王忠 赵冰茹 陈小铁 陈朝阳
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: JTAG边界扫描测试 IEEE1149.1协议 主控器
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 应用与开发
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2001.02.011

摘要

文章介绍了基于IEEE1149.1协议的LS-JTAG边界扫描测试系统的设计和实现.系统以LS-JTAG主控器为核心,可以实现对支持协议的VLSI、PCB、MCM和其它数字系统进行边界扫描测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜		152	962	15.0	25.0
2	陈朝阳	华中科技大学图象所	43	354	11.0	16.0
3	王忠	华中科技大学图象所	13	140	6.0	11.0
4	陈小铁		2	8	2.0	2.0
5	赵冰茹	华中科技大学图象所	2	8	2.0	2.0