边界扫描测试技术的原理及其应用

• 作者: 崔坤林 崔旭涛 杨日杰 王小华 赵红军
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 边界扫描 边界扫描测试技术 印刷电路板 联合测试行动组 集成电路
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 20-24
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.72
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2005.11.009

摘要

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了"标准测试访问通道与边界扫描结构"的IEEE1149.1-1990标准以后,边界扫描技术得到了迅速发展和应用.利用这种技术,不仅能测试集成电路芯片输入/输出管脚的状态,而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障.对芯片管脚的测试可以提供100%的故障覆盖率,且能实现高精度的故障定位.同时,大大减少了产品的测试时间,缩短了产品的设计和开发周期.边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点,而且测试费用也相对较低.这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用.特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景.本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构,讨论了边界扫描技术的具体应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨日杰		193	1362	17.0	27.0
2	崔旭涛		45	290	7.0	15.0
3	崔坤林		5	47	2.0	5.0
4	赵红军		5	62	3.0	5.0
5	王小华		4	55	3.0	4.0