边界扫描在PCB缺陷测试中的应用

• 作者: 刘家欣 王彬如 肖大雏
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: JTAG BST 针床 ICT BGA
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 401-403,415
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2004.05.001

摘要

硬件系统的规模越来越大,复杂程度越来越高,对其进行测试也越来越困难,边界扫描技术很好地解决了传统测试的不足.通过分析边界扫描技术在PCB缺陷测试中的应用原理,提出了一种可以广泛应用、低廉高效的边界扫描测试方法-PPT,实现对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖大雏	武汉大学自动化系	24	95	6.0	9.0
2	刘家欣	武汉大学自动化系	3	34	2.0	3.0
3	王彬如	武汉大学自动化系	4	49	2.0	4.0