基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究

• 作者: 李桂祥 杨江平 王隆刚
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 互连电路测试 超大规模集成电路
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 247-249，253
• 页数: 4页
• 分类号: TP206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2003.04.003

摘要

对VLSI 芯片互连电路测试过程数学描述模型及测试原理进行了研究,在此基础上提出了一种基于边界扫描技术的VLSI 芯片互连电路测试实现方案.以PC机为测试平台的测试实验结果表明:该方案成功地完成了边界扫描机制试验电路板上互连电路的桥接、S-A-1型、S-A-0型等多种类型故障的检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李桂祥	空军雷达学院雷达系统工程系	31	194	9.0	13.0
2	杨江平	空军雷达学院雷达系统工程系	72	562	13.0	21.0