模拟电路边界扫描功能性测试模型研究

• 作者: 冯长江 李晓峰
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 模拟电路 边界扫描 ATAP控制器 功能测试
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 2337-2339
• 分类号: TP212
• 语种: 中文

摘要

边界扫描技术在数字电路中已经基本成熟,但在模拟电路中还涉足较少.为了提高模拟电路系统的可靠性和可测性设计,对模拟电路面向功能性测试的边界扫描模型进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想,提出了利用数字寄存器控制模拟开关的边界扫描单元结构,设计了面向功能测试的模拟电路边界扫描模型,简化了测试存取口,降低了测试难度,同时构建了模型测试平台,实现了模型的功能测试功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯长江		33	209	8.0	13.0
2	李晓峰		5	13	3.0	3.0