应用边界扫描技术提高电路板可测试性的两种优化问题

• 作者: 任哲平 常天庆 牛春平 陈圣俭
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 可测试性设计 边界扫描 优化 算法
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TN402|TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.11.012

摘要

边界扫描测试技术很好地解决了VLSI电路诊断、测试的困难问题,得到了广泛的应用.作者在查阅大量文献资料的基础上,总结出了边界扫描技术在提高电路板可测试性上的两种优化问题:即设计过程中设计复杂性和测试性改善的优化,以及在测试生成算法中紧凑性与完备性优化的问题,论文详细分析了这两种问题,分析比较了相关的优化算法,并对这两种优化问题未来的发展方向进行了预测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈圣俭		49	228	9.0	12.0
2	牛春平		24	102	5.0	9.0
3	任哲平		27	123	6.0	10.0
4	常天庆		115	499	11.0	15.0