均化效应对转子回转误差测量的影响及分析

• 作者: 李旗 李言 王凯 郗常清
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: 涡流传感器 均化效应 非接触测量 径向回转误差 轮廓误差
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 机械科学
• 页码范围: 577-579
• 页数: 3页
• 分类号: TH165.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-132X.2006.06.008

摘要

对涡流式位移传感器测头的均化效应进行了理论分析,指出被测转子的细微轮廓可以被均化,其回转误差的测量不受均化影响.推导了均化效应的幅频特性曲面,根据此幅频特性,对采样数据的高次成分的失真现象进行了深入分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李言		361	3453	31.0	39.0
2	李旗		17	120	7.0	10.0
3	王凯		61	431	10.0	19.0
4	郗常清		1	8	1.0	1.0