紫外光度法测定PCB硫酸镍、乳酸镀金／镍液中的微量硫脲

• 作者: 叶绍明 李义国 王恒义 郑彤
• 来源期刊: 印制电路资讯
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外光度法 硫脲 镀镍 分析
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 页码范围: 78-80
• 页数: 3页
• 分类号: TQ153.2

摘要

给出了紫外光度法测定PCB化学镀金／镍中，以硫酸镍、乳酸为主的镀金／镍组分液中微量硫脲含量的技术条件。根据试验结果，PH至12，波长235nm，硫脲浓度在0ug／mL～6ug／mL范围内，线性系数r=0．9996，相对标准偏差小于1％，加标回收率为97．8％～101．6％。本分析方法仪器简单，适宜于硫酸镍、乳酸镀金／镍液中微量硫脲的分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王恒义		10	46	4.0	6.0
2	叶绍明		6	6	1.0	2.0
3	李义国		2	0	0.0	0.0
4	郑彤		1	0	0.0	0.0