一种基于曲线拟合提取干涉条纹中心点的新方法

• 作者: 于文铮 于毅 司骞 蔡怀宇 黄战华
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 干涉条纹 数字图像处理 曲线拟合 边缘跟踪
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 测量·检测
• 页码范围: 115-118
• 页数: 4页
• 分类号: O436.1|O438
• 字数: 1354字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-0086.2006.01.029

摘要

介绍一种提取干涉条纹中心点的边界法向曲线拟合法.根据干涉条纹灰度分布规律,首先对干涉图像依次进行二值化处理和边缘提取,对所得到的条纹边缘进行曲线拟合,计算边缘上各点法线方向;再根据条纹灰度余弦分布特点,对法线方向上的条纹灰度数据进行最小二乘法拟合,求出极值点位置;进而获得条纹中心点坐标.该方法具有精度高、抗干扰的特点,不仅适用于平行直线型条纹图像,而且对含闭合条纹的复杂干涉图像同样适用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄战华	天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室	118	839	13.0	22.0
2	蔡怀宇	天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室	83	619	12.0	21.0
3	于毅	天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室	3	29	2.0	3.0
4	司骞	天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室	3	34	2.0	3.0
5	于文铮	天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室	3	34	2.0	3.0