一种可改善稳压器闩锁效应的过流保护电路

• 作者: 冯全源 程晓洁
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 过流保护 稳压器 闩锁 限流
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 1075-1077
• 页数: 3页
• 分类号: TN721.2
• 字数: 1735字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2006.04.023

摘要

分析了两种过流保护方法的功能及优缺点,研究并提出了一种可应用于集成稳压器中改善闩锁效应的foldback过流保护电路.通过在一般foldback电路中增加限流功能改变曲线的斜率,避免与负载曲线相交,从而解决稳压器的闩锁问题.在0.6 μm标准CMOS工艺下,Hspice仿真证明了该电路的可行性和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯全源	西南交通大学微电子研究所	261	1853	19.0	26.0
2	程晓洁	西南交通大学微电子研究所	2	44	2.0	2.0