手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计

• 作者: 李博 樊晓桠 魏廷存
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试电路 TFT-LCD驱动芯片 混合信号电路测试
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 页码范围: 125-128
• 页数: 4页
• 分类号: TP303
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2006.12.037

摘要

文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案.该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性.考虑到内置SRAM的特殊性,采用边界扫描方式进行测试,提高了测试的灵活性,减少了测试电路的面积.电平敏化扫描链的引入,大大提高了Source Driver测试的可控制性.该方案支持手机用TFT-LCD驱动控制芯片的常规以及特殊项目的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李博	西北工业大学航空微电子中心	80	345	10.0	13.0
2	樊晓桠	西北工业大学航空微电子中心	170	1393	17.0	29.0
3	魏廷存	西北工业大学航空微电子中心	70	333	11.0	13.0