X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究

• 作者: 卓尚军 王佩玲 陶光仪 韩小元
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 纯元素标样 质量厚度 计算谱线选择
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2409字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0720.2006.01.002

摘要

用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度;研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响,发现在镀层质量厚度较小时(约<14 mg/cm2)测量Zn元素的Kα线,质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算,用纯元素和相似标样校正测定结果之间的偏差最小;用纯元素作校正标样测定了3个标准样品的Zn镀层质量厚度,计算结果与标准值符合得较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陶光仪	中国科学院上海硅酸盐研究所	17	181	7.0	13.0
2	王佩玲	中国科学院上海硅酸盐研究所	39	530	13.0	21.0
3	卓尚军	中国科学院上海硅酸盐研究所	31	343	12.0	17.0