欧姆接触电阻率测量方法的比较研究

• 作者: 吴国增 谭开洲 赵安邦
• 来源期刊: 重庆邮电学院学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 金属-半导体 欧姆接触 接触电阻率 传输线模型法
• 年，卷（期）: 2006,（z1）
• 所属期刊栏目: 数学·物理
• 页码范围: 238-241
• 页数: 4页
• 分类号: O482.4
• 字数: 2875字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-825X.2006.z1.072

摘要

根据材料的厚度对金属-半导体间的欧姆接触电阻率的测量方法做了分类,并分别介绍了各种方法的原理.分析了它们的误差形成原因以及对结果的影响,比较了它们的优劣,探讨了在不同情况下最合适的办法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭开洲		23	106	5.0	9.0
2	吴国增	重庆邮电大学光电工程学院	5	20	1.0	4.0
4	赵安邦	重庆邮电大学光电工程学院	3	20	1.0	3.0