用偏光织构及透射光谱分析液晶器件的老化

• 作者: 刘骥 周学平 欧阳艳东 黄翀
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学织构 透射光谱 液晶显示器
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 页码范围: 1419-1422
• 页数: 4页
• 分类号: O433.1
• 字数: 1973字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0593.2006.08.011

摘要

对一组台式计算器液晶显示器进行了光辐照,研究了光辐照对液晶显示器件显示品质的影响.采用偏光显微镜观察到了辐照后液晶的偏光织构的变化,液晶中出现了平行的条纹状织构和失去消光作用的黑洞,随着接受光辐照时间的增加,黑洞数量越来越多,面积越来越大.通过由计算机控制的双光束紫外-可见分光光度计测试了透射光谱的变化,发现其透射率随着接受光辐照时间的增加而降低.分析结果表明,条纹状织构和黑洞的出现是由于液晶分子结构在紫外线的照射下发生了变化所致,失去消光作用的黑洞是导致液晶器件透射率持续下降的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄翀	汕头大学物理系	64	371	11.0	15.0
2	欧阳艳东	汕头大学物理系	52	293	10.0	13.0
3	周学平	汕头大学物理系	8	72	5.0	8.0
4	刘骥	汕头大学物理系	5	31	3.0	5.0