组合电路测试生成的一种新方法

• 作者: 侯艳丽 廖艳苹 赵春晖
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 粒子群算法 遗传算法 故障模拟 测试生成 组合电路
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 相关技术(2)
• 页码范围: 293-296
• 页数: 4页
• 分类号: TN914
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2006.02.097

摘要

提出了一种基于改进粒子群算法的组合电路测试生成算法,即在故障模拟的基础上应用改进粒子群算法来进行组合电路的测试生成.在一些电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵春晖	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	364	3419	27.0	39.0
2	廖艳苹	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	17	55	5.0	6.0
3	侯艳丽	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	8	35	4.0	5.0