一种组合电路内建自测试的改进方法

• 作者: 周文 庞亮 朱敏 杨春玲
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 伪随机测试序列 内建白测试 D算法
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1806-1808
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文

摘要

对组合电路的测试提出了一种将确定性测试生成方法与内建自测试相结合的设计方案;设计实现了利用D算法生成的测试矢量和伪随机测试序列生成电路共同构成测试矢量生成模块,利用内建自测试方法完成可测性设计,并将两者结合得出组合电路内建自测试的改进方法;分析与实验结果表明,该方法能减少系统硬件占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点.