一种混合信号SoC中模数转换器的内建自测试方案

• 作者: 杜俊 袁超 赵元富 鲍芳
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 内建自测试 ADC 混合信号SoC
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 123-126
• 页数: 4页
• 分类号: TP302
• 语种: 中文

摘要

提出了一种针对混合信号SoC中ADC的动态参数与静态参数测试的内建自测试方案.由于动态参数和静态参数在同一个测试电路中都能够得到测试,因此能够更加全面准确地反映待测器件的性能.通过对存储器和计算资源的合理配置和复用,将两种测试的激励产生和响应分析集成在一起,最大程度地减少了对电路面积的影响.整个设计在FPGA上实现,实验结果证明了其可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵元富		28	104	6.0	8.0
2	杜俊		3	5	2.0	2.0
3	袁超		1	2	1.0	1.0
4	鲍芳		2	4	2.0	2.0