一种基于直方图的ADC静态参数内建自测试设计方案

• 作者: 徐国卿 朱洪宇 李慧云
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: ADC 内建自测试 静态参数 FPGA
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 页码范围: 112-115
• 分类号: TP391
• 语种: 中文

摘要

本文提出了一种基于直方图（Histogram）的内建自测试（BIST）结构来测试ADC的静态参数，包括偏移误差（OffsetError）、增益误差（GainError）、积分非线性（INL）和微分非线性（DNL）．BIST体系结构主要包括波形生成控制器、一个基于DDS的数字正弦发生器、一个数字三角波发生器和一个CPU核．三角波信号被用来作为激励信号，经过数字三角波发生器和DAC转换而成．这种ADC内建自测试方案可以通过编程实现重配置，主要包括ADC精度（与待测AI）C有关）、激励信号波形类型、频率和初始相位．整个BIST通过FPGA开发板来实现，实验结果表明此BIST结构可以有效测试ADC的静态参数．