基于存储器内建自测试的全速测试设计

• 作者: 唐威 张立博 李俊玲 颜伟
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 存储器内建自测试 流水寄存器 全速测试
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

存储器内建自测试(memory built-in-self-test,MBIST)已成为可测性设计(design-for-testability,DFT)中用以测试嵌入式存储器的重要方法.在一款以太网芯片中基于传统存储器内建自测试,提出了一种多级流水寄存器的全速测试结构,减少了测试时的读写时钟周期,缩短了测试时间,降低了测试成本.经过仿真验证,证明了该流水结构设计能够有效提高内建自测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐威		25	90	6.0	8.0
2	李俊玲		2	6	1.0	2.0
3	张立博		1	0	0.0	0.0
4	颜伟		1	0	0.0	0.0