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存储器内建自测试的程序控制方法
存储器内建自测试的程序控制方法
原文服务方：
微电子学与计算机
摘要：
文中提出了一种利用处理器的指令系统编写特定程序,通过程序运行来控制完成整个存储器内建自测试过程的方法.基于此方法的设计已经成功应用于一款处理器中,有效地提高了芯片的可测试性和应用系统的容错性.
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期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位：
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-7180
CN：
61-1123/TN
开本：
大16开
出版地：
邮发代号：
创刊时间：
1972-01-01
语种：
chi
出版文献量（篇）
9826
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59060
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