嵌入式存储器内建自测试方法

• 作者: 何怡刚 宋毅 尹新 方葛丰 阳辉
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 嵌入式存储器 存储器内建自测试 March算法
• 年，卷（期）: 2008,（31）
• 所属期刊栏目: 仿真技术
• 页码范围: 263-265
• 页数: 3页
• 分类号: T
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.31.111

摘要

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文在时存储器的故障模型分析的基础上,对具有代表性的测试算法进行了深入的研究,并且详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理.通过仿真表明该方法对多数常见故障具有较高的覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	尹新	湖南大学电气与信息工程学院	35	461	12.0	20.0
3	阳辉	湖南大学电气与信息工程学院	22	131	8.0	10.0
4	方葛丰	湖南大学电气与信息工程学院	22	248	10.0	15.0
5	宋毅	湖南大学电气与信息工程学院	1	11	1.0	1.0