基于 IEEE 1500标准的嵌入式 ROM及SRAM内建自测试设计

• 作者: 谈恩民 金锋
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 嵌入式存储器 IEEE 1500标准 测试外壳 SRAM和ROM
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 页码范围: 115-119
• 页数: 5页
• 分类号: TP206
• 语种: 中文

摘要

嵌入式存储器在SOC中所占的面积比越来越大，同时也对嵌入式存储器测试技术提出了新的挑战．IEEE 1500标准为IP核设计商与集成商制订了标准的测试接口．基于此标准，本文完成了针对嵌入式存储器的测试外壳与具有兼容性的控制器的设计，以SRAM和ROM为测试对象进行验证，测试结果表明，该系统能准确地检测存储器存在的故障．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	金锋	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	7	1.0	1.0