嵌入式双端口SRAM可编程内建自测试结构的设计

• 作者: 汤敏 颜学龙
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 内建自测试 双端口SRAM测试 March算法 可编程
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 853-854
• 页数: 2页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.07.005

摘要

分析了嵌入式双端口SRAM的故障模型,并在此基础上提出了一种新型的针对嵌入式双端口SRAM的BIST结构;它能够有效地测试双端口SRAM,通过使用新型的指令格式能够减少指令数据量和测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙		89	330	9.0	12.0
2	汤敏		1	6	1.0	1.0