基于嵌入式芯核测试的IEEE std 1500标准

• 作者: 洪开 靖固 魏岩
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 片上系统 嵌入式芯核 IEEE std 1500标准 芯核测试语言
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 片上系统
• 页码范围: 138-140
• 页数: 3页
• 分类号: TP206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2009.11.060

摘要

本文介绍了IEEE std 1500的标准、基本结构和使用方法,描述了如何将标准运用到具有知识产权的芯核所构成的片上系统中,通过计算机程序设计的手段实现SOC的设计验证,完成IEEE std 1500标准中特定芯壳封装下的SOC测试,加速测试生成和复用,并结合芯核测试语言CTL提供测试设计实例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	靖固	哈尔滨理工大学计算机科学与技术学院	18	144	7.0	11.0
2	洪开	哈尔滨理工大学计算机科学与技术学院	2	10	2.0	2.0
3	魏岩	哈尔滨理工大学计算机科学与技术学院	1	7	1.0	1.0