SOC嵌入式数字IP核通用测试方法

• 作者: 徐瀚洋 王健 马昕煜
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: IEEE1500 IEEE1687 IP核测试 RAM
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 页码范围: 26-30
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

本文基于IEEE标准设计了一种通用的、低成本的嵌入式IP核测试方法.该方法通过仅重新定义待测IP的端口数量和名称,即可完成各种数字IP核测试电路设计以及集成,该方法支持IEEE1500标准中的所定义的全部11条通用指令所对应的工作模式,以此来提供丰富的IP核测试控制以及观测模式;测试软件兼容符合IEEE1687的测试数据,可做到无需修改测试图形文件即可自动完成测试、提取诊断信息.为了验证本方法的有效性,我们在FPGA上实现并测试了多种异构IP核和大量的同构IP核,在整个测试过程中,该测试方法在保证支持国际主流测试标准、具有较高的测试自动化程度的同时,利用其通用性简化了数字IP核的测试集成和复用过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王健	复旦大学专用集成电路和系统国家重点实验室	145	835	15.0	20.0
2	马昕煜	复旦大学专用集成电路和系统国家重点实验室	1	3	1.0	1.0
3	徐瀚洋	复旦大学专用集成电路和系统国家重点实验室	1	3	1.0	1.0