基于 IEEE 1500标准的 IP核测试壳的设计与验证

• 作者: 冯燕 彭智聪 王东 赵新超 陈岚
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: IEEE 1500标准 SoC测试 测试壳 自动生成
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 页码范围: 110-114
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

IEEE 1500标准对测试壳行为和芯核测试语言进行规定，可有效解决嵌入式IP核测试复用的问题。研究了IEEE 1500标准的测试机制，以ISCAS’89 Benchmark S349电路为例，详细设计了符合IEEE 1500标准的测试壳，并对测试壳的全部测试模式进行验证。结果表明，测试壳电路在所有指令下正确有效。实现了测试壳自动生成工具，经Benchmark电路验证，工具能正确生成符合IEEE 1500标准的测试壳电路。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈岚	中国科学院微电子研究所	86	361	10.0	14.0
2	王东	中国科学院微电子研究所	83	1115	19.0	31.0
3	冯燕	中国科学院微电子研究所	12	67	3.0	8.0
4	彭智聪	中国科学院微电子研究所	3	4	1.0	1.0
5	赵新超	中国科学院微电子研究所	3	8	1.0	2.0