系统芯片测试策略--IEEE P1500

• 作者: 陈新武 马建中
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: SOC IEEE P1500 嵌入式核
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 113-115
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2005.02.006

摘要

IEEE P1500标准旨在增强嵌入式核应用商和提供商之间的交流,为SOC的测试确定标准,以确保系统芯片的快速上市,降低芯片的开发周期和开发成本.从IEEE P1500标准的目的与意义、该标准定义的系统结构、标准的制订原则、测试的实现方式等角度对该标准进行详细的剖析,指出了该标准目前的进展状况和存在的问题,以及该标准与其他相关协议之间的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈新武	华中科技大学图像识别与人工智能研究所	27	87	5.0	8.0
5	马建中	信阳师范学院物理电子工程学院	3	19	2.0	3.0