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电子产品可靠性与环境试验期刊
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SpaceWire系统芯片测试技术
SpaceWire系统芯片测试技术
作者:
孙宇
王小强
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
系统芯片
结构特点
主要参数
自动测试系统
协议功能测试
摘要:
SpaceWire总线是一种专门用于空间高速数据传输的新型总线,针对该总线设计的系统芯片是实现高速传输通信的关键,其指标的优劣决定着系统的优劣.以AT7911E为例,分析了该类芯片的结构特点,针对主要参数进行了测试分析,并提出了集成电路自动测试系统与协议功能测试相结合的综合测试方法,实现了芯片全面的性能测试验证,对于SpaceWire系统芯片的测试具有指导意义.
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相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
SpaceWire系统芯片测试技术
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
系统芯片
结构特点
主要参数
自动测试系统
协议功能测试
年,卷(期)
2015,(5)
所属期刊栏目
仿真分析与测试技术
研究方向
页码范围
24-27
页数
4页
分类号
TN407
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2015.05.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
王小强
35
41
3.0
4.0
2
孙宇
16
16
2.0
3.0
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被引次数趋势
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版权信息
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2015(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
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2017(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
系统芯片
结构特点
主要参数
自动测试系统
协议功能测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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