微波裸芯片的测试技术

• 作者: 吴少芳 孔学东 黄云
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 裸芯片 微波单片集成电路 夹具 探针
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 55-58
• 页数: 4页
• 分类号: TN454
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.04.015

摘要

鉴于目前对微波裸芯片的旺盛需求,介绍了几种测试技术,主要包括探针台测试技术、夹具测试技术和非侵入式测试技术,并对不同的测试技术进行了对比,分析了各种测试方法的优缺点及存在的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孔学东		8	21	2.0	4.0
2	黄云		10	30	3.0	5.0
3	吴少芳		2	14	2.0	2.0