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电子产品可靠性与环境试验期刊
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基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术
基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术
作者:
王小强
罗宏伟
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
卫星导航射频芯片
集成电路测试
结构特点
摘要:
卫星导航射频芯片是导航系统中的关键部分,其指标的优劣决定着导航系统的导航精度.通过分析卫星导航射频芯片的结构特点,针对主要参数进行了测试分析.在基于集成电路自动测试系统(ATE)的基础上,结合射频测试设备实现卫星导航射频芯片的性能测试.该技术对基于ATE的射频芯片测试均具有借鉴意义.
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S参数测试
噪声系数测量
内容分析
文献信息
版权信息
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相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
基于ATE的卫星导航射频芯片测试技术
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
卫星导航射频芯片
集成电路测试
结构特点
年,卷(期)
2015,(2)
所属期刊栏目
计量与测试技术
研究方向
页码范围
64-66
页数
3页
分类号
TN407
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2015.02.014
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王小强
35
41
3.0
4.0
2
罗宏伟
27
98
5.0
9.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
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版权信息
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参考文献(0)
二级参考文献(0)
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二级引证文献(0)
2018(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
卫星导航射频芯片
集成电路测试
结构特点
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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