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基于ATE的LVDS芯片测试技术
基于ATE的LVDS芯片测试技术
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
介绍了基于自动测试设备(ATE)的低压差分信号(LVDS)芯片测试,从LVDS测试板设计、功能测试、直流参数测试和交流参数测试4个方面阐述了LVDS芯片测试的要点,结果表明,ATE上的测试结果符合ANSI/TIA/EIA-644定义的LVDS信号的接口特性.
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文献信息
| 篇名 | 基于ATE的LVDS芯片测试技术 | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | 低压差分信号 自动测试设备 测试板 功能 直流参数 交流参数 | ||
| 年，卷（期） | 2012,（z1） | 所属期刊栏目 | 计算机科学与技术 |
| 研究方向 | 页码范围 | 207-210 | |
| 页数 | 分类号 | TN407 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.051 | ||
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2803
总下载数（次）
0
总被引数（次）
9369
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