一种基于PCIE的FPGA密码芯片验证测试系统

• 作者: 刘学光 李树国
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: PCIE 密码芯片 FPGA验证 测试
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 79-82,87
• 页数: 5页
• 分类号: TN49
• 语种: 中文

摘要

搭建了一种基于PCIE通信的用于密码芯片的FPGA验证与测试系统。该系统针对SM234密码芯片的验证测试，提出了一种芯片流片前后验证测试的方法。在芯片流片前利用FPGA实现密码芯片逻辑，以验证密码芯片的功能，降低芯片的流片风险。同时，为密码芯片后期测试提供一种可行的测试方案，以缩短密码芯片的后期测试时间。鉴于密码芯片三种密码算法的高速数据传输要求，系统选择PCIE作为板卡的数据传输总线来提高验证测试系统的效率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李树国	清华大学微电子所	37	235	8.0	13.0
2	刘学光	清华大学微电子所	1	2	1.0	1.0