一种FPGA芯片时钟SKEW的测试方法

• 作者: 于宗光 张艳飞 王德龙 胡凯 谢长生
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: FPGA SKEW 环形振荡器 测试
• 年，卷（期）: 2017,（6）
• 页码范围: 137-140
• 页数: 4页
• 分类号: TP303
• 语种: 中文

摘要

随着FPGA规模的扩大和工作频率的提高,时钟Skew成为FPGA越来越重要的性能指标,而如何精确测试芯片中的时钟Skew也就显得尤为重要.对此以JFPGA-YX2芯片为例,介绍一种可以精确测量FPGA时钟Skew的测试方法.将芯片内部的时钟资源通过配置逻辑配置成一系列的环形振荡器,每个振荡器的振荡频率由该振荡器所包含路径的延时决定.对这些振荡器的测量频率值进行运算处理即可获得精确的时钟Skew.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于宗光	中国电子科技集团公司第五十八研究所	140	722	12.0	22.0
2	谢长生		5	2	1.0	1.0
3	王德龙		2	1	1.0	1.0
4	胡凯	中国电子科技集团公司第五十八研究所	15	33	4.0	5.0
5	张艳飞	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	18	3.0	4.0