面向FPGA芯片开发的测试方法设计与实现

• 作者: 于芳 张倩莉 李明 李艳 陈亮 陈陵都
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: FPGA芯片验证与测试 测试方法 测试向量 测试覆盖率
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 页码范围: 22-27
• 页数: 6页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

针对自主研发的SOI-CMOS工艺FPGA芯片VS1000，开发出一种FPGA测试工具（VVK）软件系统．VVK是借助Verilog HDL描述电路和UCF约束电路的特性开发并实现的全自动测试方法．其意义在于解决了设计 FPGA芯片过程中面临的最冗繁棘手的验证和测试难题，可以实现FPGA全芯片、内部各种逻辑模块的功能结构的验证和测试．该工具可以用于FPGA流片前的行为级、晶体管级的仿真和验证、FPGA圆片测试、以及FPGA芯片抗辐照测试．验证和测试的结果证明了这套方法的正确性、高效性，同时这种测试方法也适用于其他架构FPGA的测试．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李艳	中国科学院微电子研究所	73	935	16.0	28.0
2	李明	中国科学院微电子研究所	251	3222	29.0	47.0
3	陈亮	中国科学院微电子研究所	122	1011	16.0	27.0
4	于芳	中国科学院微电子研究所	28	112	6.0	9.0
5	陈陵都	北京大学软件与微电子学院	2	8	2.0	2.0
6	张倩莉	中国科学院微电子研究所	1	6	1.0	1.0