基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法

• 作者: 林媛 沈欣 陈良权 高敏
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: OCTA NOR Flash 高效测试 FPGA
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 页码范围: 65-67,72
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

针对OCTA NOR Flash的测试占用接口多,传统测试方法耗时较长的问题,提出了一种基于I/O口共用的OCTA NOR Flash高效测试系统及方法,以FPGA作为控制器,将测试指令传输给多颗Flash芯片,FPGA接收Flash芯片传回的数据后经过处理,可显示到相应的显示装置上.实际验证了系统的可行性.实际验证的结果表明,在测试过程中,数据传输稳定,无误码.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林媛	电子科技大学电子科学与工程学院	15	35	4.0	5.0
2	高敏	电子科技大学电子科学与工程学院	13	6	2.0	2.0
3	沈欣	电子科技大学电子科学与工程学院	1	0	0.0	0.0
4	陈良权		1	0	0.0	0.0