一种反熔丝FPGA的可配置传输延迟测试电路

• 作者: 刘丹 吴华刚 吴方明 晁醒 李威 杜涛
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 反熔丝FPGA 传输延迟 测试电路 可配置
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 页码范围: 84-88,93
• 页数: 6页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

为了对反熔丝FPGA进行性能评估及芯片速度等级的定级划分,提出了采用传输延迟参数测试法进行分析.针对反熔丝FPGA一次可编程及应用需求多样性的特点,设计了一种包含完整传输延迟影响因素的专用测试电路,该电路能对测试链路级数、布线长度、散出数等多方面进行差异化配置,从而形成了具有实用性和通用性的反熔丝FPGA性能评估解决方案.通过电路仿真及1.0μm CMOS ONO反熔丝工艺硅验证实测表明,该传输延迟测试电路能实际应用于反熔丝FPGA的产品开发.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李威	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	49	283	8.0	14.0
2	刘丹	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	50	231	8.0	12.0
3	杜涛	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	11	31	4.0	5.0
4	晁醒	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	2	0	0.0	0.0
5	吴方明	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	2	0	0.0	0.0
6	吴华刚	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	0	0.0	0.0