基于反熔丝的 FPGA的测试方法

• 作者: 卢礼兵 马金龙
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 反熔丝 FPGA ATE 实装板 测试
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 页码范围: 168-172
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

首先介绍了基于反熔丝的 FPGA 的典型结构，接着介绍了基于反熔丝的 FPGA 的可编程逻辑模块（PLM）、布局布线以及可编程互连资源，然后讨论了基于反熔丝的FPGA的测试模式，最后提出了一种ATE和实装板相结合的测试方法，实验结果表明，该测试方法在芯片未编程状态下，实现了对基于反熔丝的FPGA的测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卢礼兵	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	17	2.0	3.0
2	马金龙	中国电子科技集团公司第五十八研究所	4	10	2.0	3.0